单波长X荧光硅含量分析仪是一种利用X射线荧光（XRF）原理进行元素分析的仪器，广泛应用于矿石、土壤、冶金等领域的成分分析。特别是在矿石分析中，硅含量的测定是非常重要的，因为硅在矿石中的分布直接影响到矿石的物理化学性质以及冶炼过程的经济效益。因其高效、无损、快速等特点，在矿石中的应用日益广泛。单波长X荧光硅含量分析仪在矿石分析中的应用，主要包括以下几个方面：一、矿石原料的成分分析在矿石采矿和选矿过程中，矿石的硅含量直接影响到矿石的冶炼效果和冶炼成本。硅含量高的矿石往往会增加冶炼...

为深入贯彻落实国家生态环境监测要求，推动烷基汞检测技术标准化应用，仪真分析于2025年9月23日至26日成功举办“烷基汞标准宣贯高级培训班”。本次培训聚焦烷基汞检测的前沿方法与实战能力提升，吸引了来自各地环境、水务、第三方检测等单位的专业技术骨干参与。培训围绕《水质烷基汞的测定吹扫捕集/气相色谱-冷原子荧光光谱法》（HJ977-2018）、《土壤和沉积物甲基汞和乙基汞的测定》（HJ1269-2022）以及《生活饮用水标准检验方法》金属指标相关标准（GB/T5750.6-202...

为进一步助力用户掌握连续流动分析技术，提升在实际应用中的综合能力，仪真分析于2025年9月16日至19日成功举办“仪真分析-SEAL（水尔）连续流动分析仪高级培训班”。本次培训延续“理论+实操”深度融合的模式，吸引了来自环监、水务、海洋等多领域专业技术人士参与。课程内容全面涵盖连续流动分析仪的工作原理、方法建立、市场应用、日常维护、故障排查与数据处理等重要模块。理论环节聚焦行业最新应用场景和真实痛点，结合典型案例展开系统讲解，帮助学员构建清晰完整的知识框架。实操环节由专家团队...

能量色散X荧光多元素含量分析仪作为一种高效的分析工具，广泛应用于环境监测、材料科学、地质勘探等领域。优化其精度是提高分析结果可靠性和准确性的重要环节。精度优化可以从硬件、软件以及实验条件等多个方面入手。以下是对能量色散X荧光多元素含量分析仪精度优化的几方面分析。一、硬件优化硬件的优化是影响精度的关键因素之一。主要包括以下几个方面：1、探测器的选择和校准：探测器是影响信号检测和分析精度的核心部件。在选择时，需要考虑探测器的能量分辨率、线性响应范围等因素。高质量的探测器能有效减少...

8月20日-22日，第四届全国石油化工分析测试技术暨第十四届全国石油化工色谱学术报告会（PCA&C2025）在成都盛大召开。本次会议由中国石油学会石油炼制分会主办，汇聚了中国科学院、中石化等多个机构与企业的专家学者，围绕“分析技术支撑石化产业数智化、绿色化发展”这一主题展开深入探讨，为推进行业高质量发展提供技术支撑与创新思路。仪真分析携XOS公司的单波长系列和高精度能量色散系列元素分析仪亮相，重点展示了单波长色散X射线荧光技术（MWDXRF）和高精度能量色散X射线荧光技术（H...