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单波长X荧光硅含量分析仪的原理及优势介绍

发表时间:2022-10-18  |  点击率:69
  单波长X荧光硅含量分析仪是由低功率X射线管发射的多波长X射线萤光,由双曲面弯晶光学元件捕获并聚焦,照射一个具有合适波长的单色X射线,可以激发样品盒中被测样品上硅元素K层中的电子,形成一个小点。单色主光束激发样品并发射次级特征荧光X射线。只有波长为0.713nm的K被硅元素激发,通过第二双曲弯曲晶体光学元件收集,通过适当的检测器测量X射线荧光,然后使用校准方程转换为被测样品中的硅含量。
 
  单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理:
 
  低功率X射线管发出的多波长X射线荧光被双曲面弯曲晶体光学元件捕获并聚焦,并将波长合适的能够激发硅元素K层电子的单色X射线照射在样品盒中的被测样品上,形成一个小点。单色主光束激发样品并发射次级特征荧光X射线。只有波长为0.713nm的K被硅元素激发,通过第二双曲弯曲晶体光学元件收集,通过适当的检测器测量X射线荧光,然后使用校准方程转换为被测样品中的硅含量。
 
  单波长X荧光硅含量分析仪的产品优势:
 
  1、样品制备和仪器操作过程简单,检测速度快,分析时间300秒;
 
  2、无样品损失或转化,无耗气量,高温操作;
 
  3、直接检测,无需样品预处理;超低维护和更少校准频率;
 
  4、体积小,可放置在任何实验室,即插即用;样品杯膜无接触和切割;
 
  5、单波长X射线荧光硅分析仪配有标准工作站,可以有更多的数据存储空间,同时实现LIMS功能;
 
  6、分析仪中没有运动部件;标准的12位自动取样器可以真正提高效率。